了解序列静态量测法简单来说就是 引脚是串行测量的不能并行测量引脚。IOS只能使用此方法。需要注意短路的时间的最大限度如果时间过久会对Device 造成Overheating的现象。测量步骤(1) 供应 VDDMax 电压到 DUT 的 Power Pin。(2) 执行 Precondition Pattern。这个 Pattern 需要能够让 Output Pin 变成逻辑 1 的状态。(3) PMU 设定好限流(Current Clamp)设定。(4) 利用 PMU 供应 0V 电压到单一的输出脚上。(5) 延迟 1~5msec 后量测 IOS 电流。(6) 判断 Pass/Fail。测量现象Hot Switching 一高一低的电压Connect , 会产生一个高电流情况严重会烧毁DUT或测试的硬设备。如何避免HOT SWITCHING观念 先让两端形成等电压的状况在去闭合TEST Channel 连接PMU。首先需要指导输出引脚的电压值 这个使用PMU的FIMV的模式去测量即可。FI 为 0A其次在复位PMU Relay 之后FVMI 这个V就是上一步测量的值。再让后将FV 设置为0V 就避免了Hot Switching.实战代码PLAN IOS GO_THROUGH OFF; SITE_SEQUENCE OFF; DISABLE_BY_MARK_NO NULL; REMARK IOS; LOGIC_CLOSE_PE_RELAY(NULL,WAIT1MS); LOGIC_CLOSE_PMU_RELAY(NULL,WAIT1MS); LOGIC_CLOSE_PE_RELAY(VEN,WAIT1MS); //define you code common LOGIC_FORCE_DPS(VCC, 0.0V, ICC.MAX, I6,WAIT1MS); LOGIC_CLOSE_DPS_OUTPUT_RELAY(VCC,ON,WAIT1MS); LOGIC_FORCE_DPS(VCC, VCC.MAX, ICC.MAX, I6, WAIT1MS); LOGIC_PPMU_FV(VEN,VIL.MAX,E2,I8,WAIT1MS); //测量的值怎么取出来。VOUTValue document中没有说明取值的操作可以通过debug来读值在赋值。 LOGIC_PMU_FI_MV_PIN(VOUT, VOH.MAX, 0MA, I4, UP_LIMITVOH.MAX, DOWN_LIMITVOH.MIN, WAIT3MS); //VOUTValue 这里没有使用PMU 是因为他没单独的FV VI模式。 刚好PPMU的驱动和测量量程都满足。 LOGIC_CLOSE_PE_RELAY(VOUT,WAIT1MS); LOGIC_PPMU_FV(VOUT, VOUTValue, E2, I6); LOGIC_PPMU_FV(VOUT, 0.0V, E2, I6); LOGIC_PPMU_MI(VOUT, UP_LIMITIOS.MIN, DOWN_LIMITOS.MAX); //LOGIC_PMU_FV_MI_PIN(VOUT,0.0,IOS.MAX,I6,UP_LIMITIOS.MIN,DOWN_LIMITOS.MAX,MEASURE_LOOP_INTERVAL200US,MEAS_LOOP20,LOG_ALIASIOS_[PINGROUP],LOG_UNITMA[.3],WAIT3MS); LOGIC_PPMU_FV(VEN,PowerDown.MAX,E2,I8,WAIT1MS); LOGIC_DISCONNECT_PPMU_PIN(VEN); LOGIC_FORCE_DPS(VCC, PowerDown.MIN, -100MA, I6); LOGIC_CLOSE_DPS_OUTPUT_RELAY(VCC,ON,WAIT1MS); LOGIC_CLOSE_PE_RELAY(NULL,WAIT1MS); CONDITION IF_FAIL //LOOP_UNTIL_PASS_COUNT5; REJECT_BIN8; END_PLAN